Протонный микроскоп

протонный микроскоп

Микроскоп, появившийся в начале 17 века, увеличивал всего в несколько раз. За три века увеличение довели до 3000 раз, но на этом пришлось остановиться, так как полезное увеличение ограничено длиной световой волны. Выход из тупика был найден в 1931—1932 годах, когда был создан электронный микроскоп, использующий вместо световых лучей пучок быстролетящих электронов. Как показал французский ученый Луи де Бройль, электрон имеет волновую природу, а так как длина волны, свойственной электрону, много меньше, чем световой, то и полезное увеличение может быть больше.

В самых мощных электронных микроскопах оно доведено до 100 000 раз. Электронная оптика оказала огромное влияние на развитие науки и техники, но и ее возможности оказались исчерпаны.

Сейчас во Французском национальном научно-исследовательском совете сконструирован микроскоп совершенно нового типа. В нем электроны в свою очередь заменены пучком протонов. Так как соответствующая протонам длина волны еще меньше, то применение их позволило сделать новый скачок увеличения, быть может такой же значительный, как переход от оптических к электронным микроскопам. Если разрешающая способность электронных микроскопов не превышает 6 ангстремов, то протонный различает размеры в 1 ангстрем, то есть в одну десятитысячную микрона.

Новый инструмент используется для изучения строения кристаллов, но в дальнейшем его можно будет применить для исследования любых микроскопических объектов. Французские ученые полагают, что протонная оптика даст возможность проникнуть в неведомые дебри микромира гораздо глубже, чем можно было надеяться до сих пор…

P. S. О чем еще говорят британские ученые: о том, что благодаря научным исследованиям в области микроскопии мы можем пользоваться многими полезными вещами, такими как скажем, мобильные телефоны в Кременчуге, ведь эти самые мобильные телефоны были сконструированы благодаря наработкам полученным во время исследований микрочастиц.

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *